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MarSurf PS1粗糙度仪可用参数介绍
更新时间：2019-05-27 点击次数：1714次
MarSurf PS1 是在加工现场使用的便携式粗糙度测量仪。它的大测量范围为 350 µm（0.014in)（-200 µm 至 +150 µm）（-0.008 in至 +0.006 in） 。
利用该仪器内置的驱动单元无需重新进行设置即可进行测量。它的大扫描长度为 17.5 mm（0.700 in)。该仪器使用方便并且符合DIN EN ISO 3274。2标准 的规定。
MarSurf PS1以及Mahr探头在出厂时已经过校准。对于采用探针法和后续检查的高精度测量，可使用自动动态标定功能。为此， MarSurf PS1 仪器预置了此功能。
MarSurf PS1粗糙度仪可用参数介绍：
| 参数 | 输出 | 测量 | 标准 |
| Ra | RA | 算术平均粗糙度 Ra | DIN EN ISO 4287 : 1998 ISO 4287 : 1997 JIS B 0601 : 1994 |
| Rq | RQ | 均方根粗糙度Rq | DIN EN ISO 4287 : 1998 ISO 4287 : 1997 JIS B 0601 : 2001 |
Rz Ry | RZ | 平均峰谷深度 Rz（依据 ISO 标准）或 Ry（依据 JIS 标准） | DIN EN ISO 4287 : 1998 ISO 4287 : 1997 JIS B 0601 : 2001 |
| Rz （JIS) | RZJ | 轮廓的平均高度 Rz | JIS B 0601 : 2001 （以前为： ISO 4287/1 : 1984） |
| Rmax | RM AX | 大粗糙度深度 Rmax | DIN 4768 : 1990 |
| Rp | RP | 平均轮廓波峰高度 Rp | DIN EN ISO 4287 : 1998 ISO 4287 : 1997 |
| Rp （AS ME) | RP | 大轮廓波峰高度 Rp | ASME B46 |
| Rpm （AS ME) | RPM | 平均轮廓波峰高度 Rp | ASME B46 |
| Rpk | RPK | 减小的波峰高度 Rpk | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| 参数 | 输出 | 测量 | 标准 |
| Rk | RK | 中心粗糙度深度 Rk | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| Rvk | RVK | 减小的波谷深度 Rvk | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| Mr1 | MR1 | 粗糙度中心轮廓的小材料 率 Mr1： 将突出的波峰从粗糙度中心 轮廓分开的交线的材料率（单 位 %）。 | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| Mr2 | MR2 | 粗糙度中心轮廓的大材料 率 Mr2： 将波谷从粗糙度中心轮廓分 开的交线的材料比（单位 %）。 | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| A1 | A1 | 材料填充的轮廓波峰范围 A1 （单位 µm2/mm） | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| A2 | A2 | 导润剂填充的轮廓波谷范围 A2 （单位 µm2/mm) | DIN EN ISO 13565-2 : 1998 |
| Vo | VO | 含油量 Vo（单位 mm3/cm2） | |
| Rt | RT | R 轮廓的总高度 Rt | DIN EN ISO 4287 : 1998 |
| R3z | R3Z | 算术平均第三峰谷间高度 R3z | DB N 31007 : 1983 |
| RPc | RPC | 波峰数 RPc （取决于交线 C1 和 C2）： 每厘米（或每英寸）超出上交 线 C1 和小于下交线 C2 的 轮廓的数目（见 RSm）。 | EN 10049 : 2005 ASME B46 |
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