XDL系列采用能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，通过高稳定性微型X射线管激发样品表面，使待测元素产生特征X射线荧光。探测器接收并分析不同元素的特征谱线能量与强度，结合菲希尔有的FISCHERSCOPE®分析软件，实现对镀层厚度及成分的精确反演计算。

应用领域

电镀与表面处理：精确测量Ni、Cr、Au、Ag、Sn、Zn、Cu等单层或多层金属镀层厚度。

PCB与半导体：检测焊盘镀金、OSP涂层、ENIG（化学镍金）等关键工艺参数。

汽车零部件：评估发动机部件、紧固件、连接器的防腐镀层质量。

珠宝与贵金属：无损鉴定K金纯度、镀层厚度及合金成分。

德国菲希尔XDL系列X射线荧光测厚仪集精密光学、先进探测技术与智能软件于一体，代表了当前非破坏性涂层分析较高水平。