Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪

• 更新时间：2020-09-17
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Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面

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Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪

X射线荧光测量仪，带有快速可编程的XY平台和Z轴，可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析。在设计上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上，使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器，从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而，这台仪器适合于一般材料分析，痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外，在如引线框架等样品上进行多点测量，或是在多个不同样品上进行批量测量，都可以通过快速编程自动化地完成。 X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而，由于相对较小的探测器有效接收面积（相比较比例计数器探测器来说），信号强度低，故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似，准直器和基本滤片是可自动切换，以便为不同测量程式创造*佳的激励条件。

主要特征：

?带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。
?*高工作条件： 50 kV, 50W
?X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅PIN二极管
?准直器：4个，可自动切换，从直径Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm
?基本滤片：3个，可自动切换
?测量距离可在0—80mm范围内调节
?可编程XY平台
?视频摄像头可用来实时查看测量位置，十字线上有经过校准的刻度标尺，而测量点实际大小也在图像中显示。
?设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

应用领域：

?镀层与合金的材料分析（包括薄镀层以及低含量）。
?来料检验，生产监控。
?研发项目
?电子行业
?接插件和触点
?黄金、珠宝及手表行业
?测量印刷线路板上仅数个纳米的Au和Pd镀层
?痕量分析
?根据高可靠性要求测量铅Pb含量
?分析硬质镀层材料