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DualScope MP0R（两用法）袖珍测厚仪 DUALSCOPE MP0R和MP0R-FP测量仪器可以轻松，快速，非破坏性地测量涂层厚度，并以所有Fischer仪器的典型精度测量涂层厚度。 ?适用于现场应用，由于体积小巧，重量轻，坚固耐用的仪器设计 ?直观的操作菜单导航和图形显示。 显示屏会自动转为智能手机 ?第二显示器直接在仪器的顶部读取测量结果，例如用于测量开销

DUALSCOPE FMP40测厚仪安装指导 安装指导： 一．安装PC-Datex软件。安装结束后，打开Microsoft Excel，点击工具菜单栏下的加载宏选项， 再按浏览键，在刚才的安装目录下找到并点击PcDatex95后按确定，此时应出现如下窗口：

X-RAY XAN310荧光射线材料分析及镀层测厚仪 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性价比的紧凑入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，用于快速、无损分析镀层厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。

菲希尔XDLM-pcb200 来自德国菲希尔Fischer的XDLM-PCB测量印制电路板上镀层厚度及成分分析的入门级、耐用型测量仪。用于测量和分析印刷电路板上的涂层厚度和成分的X射线荧光测量仪器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB仪器是专门用于测量和分析印刷电路板上的涂层厚度和成分的坚固耐用的入门级仪器。

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菲希尔X-RAY X射线荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。